LADP-7 integréiert experimentellt System vun de Faraday- an Zeeman-Effekter
Experimenter
1. Den Zeeman-Effekt observéieren a verstoen, wéi e magnéitescht Moment an eng raimlech Quantiséierung funktionéieren.
2. Observéiert d'Spléckung an d'Polariséierung vun enger atomarer Spektrallinn vum Merkur bei 546,1 nm.
3. Berechnung vum Elektronenladungs-Massverhältnis baséiert op der Zeeman-Spaltungsquantitéit
4. Observéiert den Zeeman-Effekt bei anere Merkur-Spektrallinnen (z.B. 577 nm, 436 nm & 404 nm) mat optionalen Filteren.
5. Léiert wéi een e Fabry-Perot Etalon upasst an en CCD-Apparat an der Spektroskopie uwenden kann
6. Mooss d'Magnéitfeldintensitéit mat engem Teslameter a bestëmmt d'Magnéitfeldverdeelung.
7. Observéiert de Faraday-Effekt a moosst d'Verdet-Konstant mat der Liichtaussterbungsmethod
Spezifikatiounen
Artikel | Spezifikatiounen |
Elektromagnet | B: ~1400 mT; Polabstand: 8 mm; Poldurchmesser: 30 mm: axial Ëffnung: 3 mm |
Stroumversuergung | 5 A/30 V (maximal) |
Diodenlaser | > 2,5 mW@650 nm; linear polariséiert |
Etalon | Duerchmiesser: 40 mm; L (Loft) = 2 mm; Duerchgangsband: > 100 nm; R = 95%; Flaachheet: < λ/30 |
Teslameter | Beräich: 0-1999 mT; Opléisung: 1 mT |
Bleistift Quecksëlwerlampe | Emitterduerchmiesser: 6,5 mm; Leeschtung: 3 W |
Interferenzoptesche Filter | CWL: 546,1 nm; Hallefpassband: 8 nm; Apertur: 20 mm |
Direktliesmikroskop | Vergréisserung: 20-fach; Reechwäit: 8 mm; Opléisung: 0,01 mm |
Lënsen | Kollimatioun: Duerchmiesser 34 mm; Bildgebung: Duerchmiesser 30 mm, f=157 mm |
Lëscht vun den Deeler
Beschreiwung | Quantitéit |
Haaptunitéit | 1 |
Diodenlaser mat Stroumversuergung | 1 Set |
Magneto-optescht Materialprobe | 1 |
Bleistift Quecksilberlampe | 1 |
Aarm fir d'Ajustéierung vu Quecksëlwerlampen | 1 |
Milli-Teslameter-Sond | 1 |
Mechanesch Schinn | 1 |
Trägerschlitt | 6 |
Stroumversuergung vun engem Elektromagnet | 1 |
Elektromagnet | 1 |
Kondensatiounsobjektiv mat Mount | 1 |
Interferenzfilter bei 546 nm | 1 |
FP Etalon | 1 |
Polarisator mat Skala-Scheif | 1 |
Véierwelleplack mat Halterung | 1 |
Bildobjektiv mat Mount | 1 |
Direktliesmikroskop | 1 |
Fotodetektor | 1 |
Stroumkabel | 3 |
CCD, USB-Interface & Software | 1 Set (Optioun 1) |
Interferenzfilter mat Montage bei 577 & 435 nm | 1 Set (Optioun 2) |