LCP-27 Miessung vun der Diffraktiounsintensitéit

Kuerz Beschreiwung:

Den experimentelle System besteet haaptsächlech aus verschiddenen Deeler, wéi zum Beispill eng experimentell Liichtquell, eng Diffraktiounsplack, en Intensitéitsrekorder, e Computer an eng Betribssoftware. Iwwer eng Computerinterface kënnen d'Experimentergebnisse als Uschloss fir eng optesch Plattform benotzt ginn, awer et kann och als eleng Experiment benotzt ginn. De System huet e photoelektresche Sensor fir d'Liichtintensitéit ze moossen an en héichpräzise Verrécklungssensor. De Gitterlineal kann d'Verrécklung moossen an d'Verdeelung vun der Diffraktiounsintensitéit genee moossen. De Computer kontrolléiert d'Datenerfassung an d'Veraarbechtung, an d'Miessresultater kënne mat der theoretescher Formel verglach ginn.

Schéckt eis eng E-Mail

Produktdetailer

Produkt Tags

Experimenter

1. Test vun enger Eenzelschlitz-, Méifachschlitz-, poröser a Multirechteckdiffraktioun, d'Gesetz vun der Diffraktiounsintensitéit ännert sech mat experimentellen Bedéngungen.

2. E Computer gëtt benotzt fir déi relativ Intensitéit an d'Intensitéitsverdeelung vun engem eenzege Schlitz opzehuelen, an d'Breet vun der Eenzelschlitzdiffraktioun gëtt benotzt fir d'Breet vum eenzege Schlitz ze berechnen.

3. Fir d'Intensitéitsverdeelung vun der Diffraktioun vu méifach Schlitzer, rechteckege Lächer a kreesfërmegen Lächer ze beobachten

4. Fir d'Fraunhofer-Diffraktioun vun engem Eenzelspalt ze observéieren

5. Fir d'Verdeelung vun der Liichtintensitéit ze bestëmmen

Spezifikatiounen

Artikel	Spezifikatiounen
He-Ne Laser	>1,5 mW @ 632,8 nm
Eenzelschlitz	0 ~ 2 mm (justierbar) mat enger Präzisioun vun 0,01 mm
Bildmiessberäich	0,03 mm Schlitzbreet, 0,06 mm Schlitzofstand
Projektivt Referenzgitter	0,03 mm Schlitzbreet, 0,06 mm Schlitzofstand
CCD-System	0,03 mm Schlitzbreet, 0,06 mm Schlitzofstand
Makroobjektiv	Silizium-Fotozell
Wiesselstroumspannung	200 mm
Miessgenauegkeet	± 0,01 mm