LCP-27 Miessung vun Diffraktioun Intensitéit
Experimenter
1.Test vun Single Schlitz, Multiple Schlitz, porös a Multi Rechteck Diffraktioun, d'Gesetz vun der Diffraktiounsintensitéit ännert sech mat experimentellen Bedéngungen
2.A Computer gëtt benotzt fir d'relativ Intensitéit an d'Intensitéitsverdeelung vun engem eenzege Schlitz ze notéieren, an d'Breet vun der Eenzelschlitdiffraktioun gëtt benotzt fir d'Breet vum eenzege Schlitt ze berechnen.
3.To observéieren d'Intensitéit Verdeelung vun der Diffraktioun vu Multiple Schlitz, rechteckeg Lächer a kreesfërmeg Lächer
4.Fir d'Fraunhofer Diffraktioun vun engem eenzege Schlitz ze beobachten
5.Fir d'Verdeelung vun der Liichtintensitéit ze bestëmmen
Spezifikatioune
Artikel | Spezifikatioune |
He-Ne Laser | >1,5 mW @ 632,8 nm |
Single-Slit | 0 ~ 2 mm (justierbar) mat Präzisioun vun 0,01 mm |
Bild Miessunge Beräich | 0,03 mm Split Breet, 0,06 mm Split Abstand |
Projective Referenz Grating | 0,03 mm Split Breet, 0,06 mm Split Abstand |
CCD System | 0,03 mm Split Breet, 0,06 mm Split Abstand |
Makro Lens | Silicon Fotozell |
AC Power Volt | 200 mm |
Miessung Genauegkeet | ± 0,01 mm |
Schreift äre Message hei a schéckt en un eis