LADP-7 Integréiert Experimentell System vu Faraday an Zeeman Effekter
Faraday Effekt an Zeeman Effekt ëmfaassend experimentellt Instrument ass e multifunktionellt a multimessent experimentellt Léierinstrument dat zwou Aarte vun experimentellen Effekter raisonnabel integréiert. Mat dësem Instrument kann d'Konversiounsmiessung vum Faraday Effekt an Zeeman Effekt ofgeschloss ginn, an d'Charakteristike vun der magneto-optescher Interaktioun kënne geléiert ginn. D'Instrument kann am Enseignement vun der Optik a modernen Physik Experimenter an Héichschoulen an Universitéite benotzt ginn, souwéi an der Fuerschung an Uwendung vu Moossmaterialseigenschaften, Spektren an magneto-opteschen Effekter.
Experimenter
1. Observéiert den Zeeman Effekt, a verstitt atomaart magnéitescht Moment a raimlech Quantiséierung
2. Beobacht de Spaltung an d'Polariséierung vun enger Merkur-atomarer Spektrallinn bei 546,1 nm
3. Berechent Elektron Charge-Mass-Verhältnis baséiert op Zeeman Trennungsbetrag
4. Beobacht den Zeeman Effekt bei anere Merkur Spektrallinnen (z. B. 577 nm, 436 nm & 404 nm) mat optionalem Filter
5. Léiert wéi een e Fabry-Perot-Etalon upasst an en CCD-Gerät a Spektroskopie uwennt
6. Mooss Magnéitfeld Intensitéit mat engem Teslameter, a bestëmmt Magnéitfeld Verdeelung
7. Beobacht de Faraday Effekt, a moosst d'Verdet konstant mat der Liichtausstiermungsmethod
Spezifikatioune
Artikel | Spezifikatioune |
Elektromagnéit | B: ~ 1300 MT; Pole Abstand: 8 mm; Pol dia: 30 mm: axial Ouverture: 3 mm |
Stroumversuergung | 5 A / 30 V (max) |
Diode Laser | > 2,5 mW @ 650 nm; linear polariséiert |
Etalon | dia: 40 mm; L (Loft) = 2 mm; Passband:> 100 nm; R = 95%; Flaachheet: <λ / 30. |
Teslameter | Gamme: 0-1999 mT; Opléisung: 1 mT |
Bläistëft Quecksëlwer Luucht | Emitter Duerchmiesser: 6,5 mm; Kraaft: 3 W |
Amëschen opteschen Filter | CWL: 546,1 nm; Halschent Passband: 8 nm; Ëffnung: 20 mm |
Direkt Liesmikroskop | Vergréisserung: 20 X; Gamme: 8 mm; Opléisung: 0,01 mm |
Lënsen | kolliméiert: dia 34 mm; Imaging: dia 30 mm, f = 157 mm |
Deeler Lëscht
Beschreiwung | Zuel |
Haaptunitéit | 1 |
Diode Laser mat Stroumversuergung | 1 Set |
Magneto-Optesch Material Probe | 1 |
Bläistëft Merkur Lamp | 1 |
Merkur Lamp Upassung Aarm | 1 |
Milli-Teslameter Sond | 1 |
Mechanesch Schinn | 1 |
Carrier Slide | 6 |
Energieversuergung vun Elektromagnéit | 1 |
Elektromagnéit | 1 |
Kondenséierlëns mam Mount | 1 |
Interferenzfilter bei 546 nm | 1 |
FP Etalon | 1 |
Polarisator mat Skala Disk | 1 |
Quarter-Wave Plack mam Mount | 1 |
Imaging Lens mam Mount | 1 |
Direkt Liesmikroskop | 1 |
Photo Detektor | 1 |
Netzkabel | 3 |
CCD, USB Interface & Software | 1 Set (Optioun 1) |
Stéierfilter mat Montage bei 577 & 435 nm | 1 Set (Optioun 2) |