LEEM-16 Dielectric konstante Apparat
Haaptexperimentellen Inhalt
1. Miessung vun der Vakuumpermittivitéit e0 an der relativer Permittivitéit er;
2. Léieren vun der LC-Resonanzmethod fir d'Miessung vu klenger Kapazitéit;
3. d'Benotzung vun engem digitalen Oszilloskop léieren.
Haapt technesch Parameteren
DeAschreiwung | Spezifikatiounen |
DDS Signalgenerator | 4,3 Zoll LCD-Display, Sinuswelle- a Quadratwellefrequenz 1μhz ~ 10mhz, Signalamplitude 0 ~ 10vp-p, Welleformsignaloffset a Phas kënnen agestallt ginn, mat digitalen Tasten an engem Codéierschalter fir d'Astellung. |
Standardwiderstand | R1 = 1kω, Genauegkeet 0,5%. r2 = 30kω, Genauegkeet 0,1% |
Standard-Induktor | L=10,5 mh, Genauegkeet 0,3% |
Spezifikatioun vun der Testplack | 297×300 mm, Apertur: Φ4mm, Spanwäitofstand: 19mm, 50mm an 100mm, etc., Kontaktwidderstand manner wéi 5mω, maximalen Stroum l0a, verdeelt Kapazitéit 1.5pf. |
Dielektresch Plack déi getest soll ginn | PTFE an organescht Glas, φ40*2mm |
Testaccessoiren | 4mm Banannesteckerkabel, BNC op 4mm Banannesteckerkabel, Zännstécker, etc. |
Vernierkaliber | 0-150mm/0.02mm |
Spiralmikrometer | 0-25mm/0.01mm |
Digitalt Oszilloskop | Selbst virbereet |
Schreift Är Noriicht hei a schéckt se eis