LCP-27 Miessung vun Diffraktiounsintensitéit
Beschreiwung
Den experimentelle System besteet haaptsächlech aus verschiddenen Deeler, wéi experimentell Liichtquell, Diffraktiounsplack, Intensitéitrecorder, Computer an Operatiounssoftware. Duerch Computerinterface kënnen déi experimentell Resultater als Uschloss fir optesch Plattform benotzt ginn, an et kann och als Experiment eleng benotzt ginn. De System huet e photoelektresche Sensor fir d'Liichtintensitéit an d'Héichgenauegkeet Verrécklungssensor ze moossen. De Gitter Lineal kann d'Verrécklung moossen, a genau d'Verdeelung vun der Diffraktiounsintensitéit moossen. Computer kontrolléiert d'Acquisitioun an d'Veraarbechtung vun Daten, an d'Miessresultater kënne mat der theoretescher Formel verglach ginn.
Experimenter
1. Test vun engem eenzege Schlit, méi Schlit, porous a Multi Rechteck Diffraktioun, d'Gesetz vun der Diffraktiounsintensitéit ännert sech mat experimentellen Zoustänn
2. E Computer gëtt benotzt fir d'relativ Intensitéit an d'Intensitéitverdeelung vun engem eenzelen Schlitz opzehuelen, an d'Breet vun enger eenzeger Schlitzdiffraktioun gëtt benotzt fir d'Breet vum eenzege Schlit ze berechnen.
3. Fir d'Intensitéitverdeelung vun der Diffraktioun vu méi Schlitzen, rechteckeg Lächer a kreesfërmeg Lächer z'observéieren
4. Fir d'Fraunhofer Diffraktioun vun engem eenzelen Schlit ze beobachten
5. Fir d'Verdeelung vu Liichtintensitéit ze bestëmmen
Spezifikatioune
Artikel |
Spezifikatioune |
Hien-Ne Laser | > 1,5 mW @ 632,8 nm |
Single-Schlitzer | 0 ~ 2 mm (justierbar) mat Präzisioun vun 0.01 mm |
Bild Mooss Range | 0,03 mm Spaltbreet, 0,06 mm Spalt Abstand |
Projektiv Referenzgitter | 0,03 mm Spaltbreet, 0,06 mm Spalt Abstand |
CCD System | 0,03 mm Spaltbreet, 0,06 mm Spalt Abstand |
Makroobjektiv | Silicon Photocell |
AC Power Voltage | 200 mm |
Mooss Richtegkeet | ± 0,01 mm |