LB-820 UV-Vis NIR Spektrophotometer

Instrumentfeatures

Den Design vum Duebelstrahl-optesche System reduzéiert d'Hannergrondinterferenzen a verbessert d'Testgenauegkeet.

D'Empfängerdeeler vum Instrument sinn all importéiert Apparater, déi déi héich Leeschtung a Stabilitéit vum Instrument garantéieren.

D'Steierung vum Instrument (wéi Gitterkonversioun, Filterkonversioun, Empfängerkonversioun, Wellelängtescanning, etc.) gëtt all vum Computer gesteiert, an d'Interface ass USB 2.0. D'Verbindung vum Instrument ass einfach, wat d'Kommunikatiounsgeschwindegkeet däitlech verbessert.

Déi integréiert optesch Testsystemsoftware kann ausgewielt ginn, fir automatesch d'Transmittanz vum siichtbare Liicht, d'Transmittanz vum direkten Sonneliicht, d'Reflexioun vum direkten Sonneliicht an aner verwandte Parameter vum Gebaiglas z'entdecken.

Déi total Transmittanz vun der Sonnenenergie an den Abschirmungskoeffizient vu verschiddene Fënsterglaskomponenten géint Sonnestralungshëtzt kënne mat Hëllef vum hallefkugelfërmegen Emissivitéitsdetektor vum Glas ermëttelt ginn.

Spezial Accessoiren fir Prouftest kënnen ausgewielt ginn.

D'Software setzt d'Importfunktioun, déi Daten am Textformat importéiere kann.

Echtzäitmiessung vun de Proufdaten, Testergebnisse kënnen exportéiert ginn.

D'Software kann ënner WinXP a Win7 Systemer lafen.

Spezifikatiounsparameter

1. Liichtquell: importéiert Deuteriumlampe, Wolframbromidlampe

2. Wellelängteberäich (nm): 190-3200nm

3. Wellelängtengenauegkeet (nm): ± 0,5 (UV / VIS); ± 4 (NIR)

4. Wellelängtwidderhuelbarkeet (nm): ≤ 0,3 (UV / VIS); ≤ 2 (NIR)

5. Bandbreet (nm): 0,2-5 (UV-Vis), 1-20 (NIR)

6. Transmittanzgenauegkeet (% t): ± 0,3

7. Transmissiounsspezifesch Schwéierkraaft-Refolding (% t): ≤ 0,2

8. Stréiliicht (% t): ≤ 0,2% t (220nm, NAI)

9. Aarbechtsmodus: Transmittanz, Absorptioun, Reflexioun, Energie

10. Softwarefunktioun: jee no de Wënsch vun de Clienten kann déi entspriechend Testinterfacefunktioun personaliséiert ginn, fir d'Transmittanz, d'Absorptioun an d'absolut Reflexioun vun der Testprouf ze moossen.

11. Samplingintervall: 0,1 nm, 0,2 nm, 0,5 nm, 1 nm, 1,5 nm, 2 nm, 5 nm, 10 nm

12. Photometresche Beräich: 0 ~ 2,5A

13. Basisflaachheet: ± 0,004a (200-2500nm, no 30 Minutte Virhëtzen)

14. Host-Interface: USB2.0

15. Dimensiounen (mm): (Form) 830 * 600 * 260, (Proufraum) 120 * 240 * 200

16. Spezifikatioun vun der Testprouf (mm): 30 ~ 110, Déckt ≤ 20

17. Gewiicht (kg): ongeféier 65

18. Basiskonfiguratioun:

UV Vis NIR Spektrometer Host, USB Datenkabel, Quarz Kuvette, Nullblock, Applikatiounssoftware, Ënnerstëtzungsinstrumenter, etc. (e Set vun Accessoiren fir fest an flësseg Material ass Standard)

Glas ëmfaassend optesch Testsystem Software ass optional

*D'Benotzer mussen hir eege Computeren an Drécker matbréngen

Optéierenional Accessoiren

Zf820-1 Accessoiren fir Integratiounssphären

Duebel Detektoren mat engem Duerchmiesser vun Φ 60mm, 380-2500nm

Zf820-2 Accessoiren fir d'Miessung vu feste Proben

Beräich vun der Klemmlins: Duerchmiesser: Φ 10-36mm; Déckt: 0.5-10mm

Zf820-3 Reflexiounsmiessaccessoire

Den Afallswénkel ass 5 Grad, an de Reflexiounsspektrum gëtt gemooss

Software

D'Software vum Instrument huet räich Test- an Analysefunktiounen, déi d'Transmittanz, d'Absorptioun, d'Energie an d'Reflexivitéit moosse kënnen. Et huet d'Funktioune vum Spektrumscannen, der Fixpunktmiessung an der Multiwellenlängtmiessung.