LB-820 UV-Vis NIR Spektrofotometer

Instrument Fonctiounen

Den Design vum Duebelstrahl opteschen System reduzéiert den Hannergrondinterferenz a verbessert d'Testgenauegkeet.

D'Empfängerdeeler vum Instrument sinn all importéiert Geräter, déi d'Héichleistung an d'Stabilitéit vum Instrument garantéieren.

D'Kontroll vum Instrument (wéi Gitterkonversioun, Filterkonversioun, Empfängerkonversioun, Wellelängtscannen, etc.) gëtt alles vum Computer kontrolléiert, an d'Interface ass USB2.0.D'Verbindung vum Instrument ass einfach, wat d'Kommunikatiounsgeschwindegkeet staark verbessert.

D'integréiert opteschen Test System Software kann ausgewielt ginn automatesch d'siichtbar Liichtjoer Transmissioun z'entdecken, direktem Sonneliicht transmittance, direkt Sonneliicht reflectance an aner Zesummenhang Parameteren vun Gebai Glas.

D'total Iwwerdroung vun der Solarenergie an de Schirmkoeffizient vu verschiddene Fënsterglaskomponenten op d'Sonnestrahlungshëtzt kënne kritt ginn duerch Kooperatioun mam Glashemisphäresche Emissivitéitsdetektor.

Special Prouf Test Accessoiren kann ausgewielt ginn.

D'Software setzt d'Importfunktioun, déi Daten am Textformat importéiere kann.

Echtzäitmessung vu Probedaten, Testresultatdaten kënnen exportéiert ginn.

D'Software kann ënner WinXP a Win7 Systemer lafen.

Spezifizéierung Parameteren

1. Liichtquell: importéiert Deuteriumlampe, Wolframbromidlampe

2. Wellelängtbereich (nm): 190-2800 (ausbaubar op 3600nm)

3. Wellelängt Genauegkeet (nm): ± 0,5 (UV / VIS);± 4 (NIR)

4. Wellelängt Wiederholbarkeet (nm): ≤ 0,3 (UV / VIS);≤ 2 (NIR)

5. Bandbreedung (nm): 0,2-5 (UV-Vis), 1-20 (NIR)

6. Transmissioun Genauegkeet (% t): ± 0,3

7. Transmissioun spezifesch Schwéierkraaft refolding (% t): ≤ 0,2

8. Stray Liicht (% t): ≤ 0,2% t (220nm, NAI)

9. Aarbechtsmodus: Iwwerdroung, Absorptioun, Reflexivitéit, Energie

10. Software Funktioun: laut dem Custom vu Clienten kann déi entspriechend Test-Interface-Funktioun personaliséiert ginn fir d'Transmittance, d'Absorptioun an d'absolut Reflexioun vun der Testprobe ze moossen.

11. Sampling Intervall: 0.1nm, 0.2nm, 0.5nm, 1nm, 1.5nm, 2nm, 5nm, 10nm

12. Photometresch Beräich: 0 ~ 2,5A

13. Baseline Flatness: ± 0.004a (200-2500nm, no Virheizung fir 30 Minutten)

14. Host Interface: USB2.0

15. Dimensioun (mm): (Form) 830 * 600 * 260, (Prouf Sall) 120 * 240 * 200

16. Test Echantillon Spezifizéierung (mm): 30 ~ 110, deck ≤ 20

17. Gewiicht (kg): ongeféier 65

18. Basiskonfiguratioun:

UV Vis NIR Spektrometer Host, USB Datekabel, Quarz Kuvette, Nullblock, Applikatiounssoftware, Ënnerstëtzungsinstrumenter, asw.

Glas iwwergräifend opteschen Test System Software ass fakultativ

* D'Benotzer mussen hir eege Computeren a Drécker ubidden

Optional Accessoiren

Zf820-1 integréiert Sphär Accessoiren

Duebel Detektoren mat Duerchmiesser vun Φ 60mm, 380-2500nm

Zf820-2 zolidd Probe Mooss Accessoiren

Gamme vu Spannobjektiv: Duerchmiesser: Φ 10-36mm;deck: 0,5-10mm

Zf820-3 Reflexiounsmessungs Accessoire

Den Incidentwinkel ass 5 Grad, an de Reflexiounsspektrum gëtt gemooss

Software

D'Aarbechtssoftware vum Instrument huet räich Test- an Analysefunktiounen, déi d'Transmittance, d'Absorptioun, d'Energie an d'Reflexivitéit moosse kënnen.Et huet d'Funktioune vu Spektrum Scannen, Fixpunktmiessung a Multi Wellelängtmessung