LCP-25 Experimentellen Ellipsometer
Spezifikatiounen
| Beschreiwung | Spezifikatiounen |
| Décktmiessberäich | 1 nm ~ 300 nm |
| Beräich vum Invalswénkel | 30º ~ 90º, Feeler ≤ 0,1º |
| Polarisator & Analysator Schnëttwénkel | 0º ~ 180º |
| Scheifwénkelskala | 2º pro Skala |
| Min. Ofliesung vum Nonius | 0,05º |
| Optesch Zentrumhéicht | 152 mm |
| Duerchmiesser vun der Aarbechtsbühn | Φ 50 mm |
| Gesamtdimensiounen | 730x230x290 mm |
| Gewiicht | Ongeféier 20 kg |
Lëscht vun den Deeler
| Beschreiwung | Quantitéit |
| Ellipsometer Eenheet | 1 |
| He-Ne Laser | 1 |
| Photoelektrische Verstärker | 1 |
| Fotozell | 1 |
| Kieselerdefilm op Siliziumsubstrat | 1 |
| Analysesoftware CD | 1 |
| Gebrauchsanweisung | 1 |
Schreift Är Noriicht hei a schéckt se eis









