LCP-25 Experimentellen Ellipsometer
Spezifikatiounen
Beschreiwung | Spezifikatiounen |
Décktmiessberäich | 1 nm ~ 300 nm |
Beräich vum Invalswénkel | 30º ~ 90º, Feeler ≤ 0,1º |
Polarisator & Analysator Schnëttwénkel | 0º ~ 180º |
Scheifwénkelskala | 2º pro Skala |
Min. Ofliesung vum Nonius | 0,05º |
Optesch Zentrumhéicht | 152 mm |
Duerchmiesser vun der Aarbechtsbühn | Φ 50 mm |
Gesamtdimensiounen | 730x230x290 mm |
Gewiicht | Ongeféier 20 kg |
Lëscht vun den Deeler
Beschreiwung | Quantitéit |
Ellipsometer Eenheet | 1 |
He-Ne Laser | 1 |
Photoelektrische Verstärker | 1 |
Fotozell | 1 |
Kieselerdefilm op Siliziumsubstrat | 1 |
Analysesoftware CD | 1 |
Gebrauchsanweisung | 1 |
Schreift Är Noriicht hei a schéckt se eis