LCP-25 Experimentell Ellipsometer

Kuerz Beschreiwung:

De manuelle ellipteschen Polarimeter benotzt d'Ausstierwenmethod fir d'Dicke an de Brechungsindex vum Film ze moossen, a reguléiert manuell d'Deviatioun an d'Ofwäichungswinkel vum Testprozess.Ellipsometrie gëtt wäit an der Messung vun dielektreschen dënnen Film op zolitte Substrat benotzt.An der Methode fir d'Dicke vum Film ze moossen, kann et op déi dënnst an déi héchst Präzisioun gemooss ginn.

Schéckt E-Mail un eis

Produit Detailer

Produit Tags

Spezifikatioune

Beschreiwung	Spezifikatioune
Dicke Miessbereich	1 nm ~ 300 nm
Gamme vun Tëschefall Wénkel	30º ~ 90º, Feeler ≤ 0.1º
Polarisator & Analyser Kräizung Wénkel	0º ~ 180º
Disk Angular Skala	2º pro Skala
Min.Liesung vum Vernier	0,05º
Optesch Center Héicht	152 mm
Aarbecht Etapp Duerchmiesser	Φ 50 mm
Allgemeng Dimensiounen	730 x 230 x 290 mm
Gewiicht	Ongeféier 20 kg

Deel Lëscht

Beschreiwung	Quty
Ellipsometer Eenheet	1
He-Ne Laser	1
Fotoelektresch Verstärker	1
Foto Zell	1
Silica Film op Silicon Substrat	1
Analyse Software CD	1
Bedienungsanleitung	1