Wëllkomm op eise Websäiten!
section02_bg(1)
head(1)

LCP-25 Experimentell Ellipsometer

Kuerz Beschreiwung:


Produkt Detail

Produkt Tags

Aféierung

De manuellen elliptesche Polimeter benotzt d'Ausstiermungsmethod fir d'Dicke an de Briechungsindex vum Film ze moossen, a manuell den Ofwäichung an den Ofwäichungswénkel vum Testprozess reguléieren. Ellipsometrie gëtt wäit an der Messung vum dielektreschen Dënnfilm op massivem Substrat benotzt. An der Method fir d'Dicke vum Film ze moossen, kann et zu der dënnster an héchster Präzisioun gemooss ginn.

Spezifikatioune

Beschreiwung Spezifikatioune
Déck Mooss Range 1 nm ~ 300 nm
Range of Incident Angle 30º ~ 90º, Feeler ≤ 0,1º
Polariséierter & Analyséierer Kräizungswénkel 0º ~ 180º
Disk Wénkel Skala 2º pro Skala
Min. Liesung vu Vernier 0,05º
Optesch Zentrum Héicht 152 mm
Aarbecht Bühnen Duerchmiesser Φ 50 mm
Allgemeng Dimensiounen 730x230x290 mm
Gewiicht Ongeféier 20 kg

Deel Lëscht

Beschreiwung Zuel
Ellipsometer Eenheet 1
Hien-Ne Laser 1
Photoelektresche Verstärker 1
Photo Zell 1
Silikafilm op Silicon Substrat 1
Analyse Software CD 1
Instruktiounshandbuch 1

  • Virdrun:
  • Nächst:

  • Schreift Äre Message hei a schéckt en un eis